Problem z nieliniowością pomiarów rezystancji został rozwiązany. Okazuje się, że przyczyną było złe lutowanie SMD. Po poprawieniu pomiar rezystancji jest już znacznie lepszy. Tym razem jednak pełnego sukcesu nie ogłaszam, bo niepokoi mnie ciągle pomiar części reaktancyjnej impedancji - szczególnie dla dużych impedancji.
Może się okazać, że będzie potrzebny kompromis: albo duża pojemność referencyjna i praca miernika od niskich częstotliwości (ale kiepska dokładność pomiaru reaktancji), albo mniejsza pojemność referencyjna, praca od kilku MHz, ale dokładniejszy pomiar reaktancji. Muszę ten temat jeszcze dokładniej zbadać...
Poza tym nie wykluczam jeszcze błędów w obliczeniach, bo według mnie, jeśli obliczenia byłyby całkiem poprawne, to pomiar bez kalibracji powinien pokazywać już jakieś sensowne wartości, a tak nie jest - dopiero kalibracja prostuje wyniki.
Po kalibracji wyniki pomiarów rezystancji wyglądają tak:
1. Port zwarty
2. Rezystor 10R
3. Rezystor 15R
4. Rezystor 22R
5. Terminator 50R (użyty w kalibracji)
6. Rezystor 75R
7. Rezystor 100R
8. Rezystor 220R
9. Rezystor 330R
10. Rezystor 470R
Zobaczymy co jeszcze uda mi się zawalczyć w tym temacie...
Pozdrawiam,
Rafał SP3GO
